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        鍍層測試儀

        更新時間：2023-10-09

        熒光X線膜厚計采用中文視窗操作測量係統解析度0.001µm小測量麵積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

        鍍層測試儀特點：

        中文視窗操作測量係統
        解析度0．001um， 小測量麵積0．1mmΦ
        可測量合金層之厚度和組成比例
        可測量兩層以上鍍層之個別厚度
        藉由光譜分析可判定被測物之元素
        適用對象：1C導線架，封裝業、PCB業、精密零
        件業、電鍍業、電子業。

         

        		 

         

         

         

         

         

         

         

         

         

         
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